Seminarium aplikacyjne: Mechaniczne właściwości cienkich warstw- 30 czerwca i 1 lipca 2010 r.

----- Original Message -----
From: Agnieszka Kowalczyk
Cc: kowalczyk@lot-oriel.pl
Sent: Wednesday, May 12, 2010 7:13 AM
Subject: Seminarium aplikacyjne: Mechaniczne właściwości cienkich warstw- 30 czerwca i 1 lipca 2010 r.

Szanowni Państwo,

Serdecznie zapraszamy Państwa na seminarium aplikacyjne pt. "Mechaniczne właściwości cienkich warstw"- 30 czerwca i 1 lipca 2010 r.

We wszystkich obszarach zastosowań właściwości powierzchni stanowią istotny problem. Zarówno w procesach modyfikacji powierzchni jak i przy nanoszeniu cienkich warstw, właściwości mechaniczne próbek mają wpływ na końcowy rezultat. Tak więc badania właściwości mechanicznych cienkich warstw i powierzchni muszą być wykonywane z dużą czułością. Do dyskusji na ten temat zapraszamy podczas zorganizowanego przez nas 2 godzinnego seminarium podczas Konferencji NANO 2010 w Poznaniu.

W ciągu 2 godzinnego wykładu ekspert MicroMaterials zapozna uczestnikami z technikami pomiarowymi i wyjaśniei różnice między systemami pomiarowymi na przykładach eksperymentalnych.

Liczba uczestników bioracych udział w wykładzie jest ograniczona, dlatego oferujemy dwa wykłady w dwóch kolejnych dniach konferencji.

Rejestracji można dokonać na naszej stronie:

 www.lot-oriel.com/seminar/mml-Poznan

Po uzyskaniu rejestracji wyślemy potwierdzenie, program i opis jak dotrzeć do miejsca.

Udział w seminarium będzie bezpłatny.

Zarejestrowani uczestnicy mogą wejść bez potrzeby rejestracji na Konferencji Nano 2010 (bez udziału w Konferencji Nano 2010).

Uprzejmie zapraszam także na prezentację mikroskopu AFM niemieckiej firmy JPK w dniach 29-30 czerwca 2010

(stanowisko wystawowe LOT-Oriel ).

Jeśli Państwo nie życzą sobie otrzymywac e-mailowej informacji o naszej ofercie proszę o przesłanie zwrotnego e-maila z trescią tematu: "wypisac".

Z poważaniem,

L.O.T.-Oriel GmbH & Co KG

dr Agnieszka Kowalczyk, dr Thomas Wagner

 
Received on Tue Jun 8 08:56:37 2010