ROZWIĄZANIA Z ZAKRESU BADAŃ MATERIAŁOWYCH

Autor: Krzysztof Boguszewski <k.boguszewski_at_metalogis.com>
Data: Wed 02 Sep 2009 - 11:06:48 MET DST
Message-ID: <003101ca2bac$b4488020$1cd98060$@boguszewski@metalogis.com>
Content-Type: multipart/related; boundary="----=_NextPart_000_0032_01CA2BBD.77D15020"

 

TARGI CONTROL-TECH 2009

KIELCE 29.09.2009 – 01.10.2009

 

 

metalografia.jpgConsumables1.jpg

 

h_system_image_2.jpgpda.jpg

Serdecznie zapraszamy do odwiedzenia naszego stoiska D-18 (pawilon D) na targach Control-Tech 2009 w Kielcach w dniach 29.09.2009 – 01.10.2009.

 

W bieżącym roku będziemy prezentować m.in. najnowsze rozwiązania z zakresu preparatyki zgładów metalograficznych i materiałograficznych, systemy pomiaru twardości, podręczne spektrometry rentgenowskie XRF do szybkiej i dokładnej analizy składu chemicznego i identyfikacji materiałów, w tym stopów oraz inne rozwiązania znajdujące się w naszej ofercie.

 

Będzie nam bradzo miło spotkać się z Państwem i móc odpowiedzieć na wszelkie pytania dotyczące naszej oferty.

 

ZAPRASZAMY!

 

 <http://www.metalogis.com/> logo_new.gif

METALOGIS s.c. ul. Nasielska 44, 04-342 Warszawa

Tel.: +48 (22) 353 99 26, Fax: +48 (22) 353 99 27

e-mail: info@metalogis.com, www.metalogis.com

 

 

 

image005.jpg image011.gif image008.jpg image009.jpg image010.jpg
Received on Wed Sep 2 11:06:50 2009

To archiwum zostao wygenerowane przez hypermail 2.1.8 : Wed 02 Sep 2009 - 12:03:00 MET DST